Caracterización de Bainitas en aceros microaleados de bajo carbono

BOLMARO, RAÚL; TARTALINI, VANINA; ÁVALOS, MARTINA; RISSO, PABLO

San Carlos de Bariloche

Congreso; 4° Congreso Argentino de Microscopía ? SAMIC; 2016

Instituto Balseiro. Comisión Nacional de Energía Atómica (CNEA)

p { margin-bottom: 0.21cm; direction: ltr; color: rgb(0, 0, 0); }p.western { font-family: "Times New Roman","Times New Roman",serif; font-size: 12pt; }p.cjk { font-family: "Times New Roman","Times New Roman",serif; font-size: 12pt; }p.ctl { font-family: "Times New Roman","Times New Roman",serif; font-size: 12pt; }a:link { color: rgb(0, 0, 255); }a.sdfootnotesym-western { font-size: 10pt; }a.sdfootnotesym-cjk { font-size: 10pt; }La técnicade Electron Back Scattering Diffraction necesita de diversosparámetros de calidad para evaluar la calidad, corrección yconfiabilidad de los resultados obtenidos. Los mismos proveen variostipos de evaluación de la corrección de las determinaciones de lasorientaciones efectuadas por medio de la indexación de los patronesde Kikuchi, siendo calculados en sus diversos estadios: detección delos patrones de Kikuchi, cálculo en el espacio de Hough e indexacióndel patrón. Una discusión extensa se puede encontrar en Pinard etal. [1]. El índice de calidad (IQ, por sus siglas en inglés) mideel contraste de las imágenes colectadas en la pantalla fluorescenteo de su transformada de Hough y la consecuente posibilidad de obteneruna buena indexación de los patrones. El índice de confianza (CI,ídem) mide la corrección relativa de las diferentes opciones deindexación halladas por el software, permitiendo adoptar la de mayorCI como la correcta. El parámetro ?Fit? mide la diferenciaangular promedio entre las líneas del patrón experimental y elcalculado. Estos parámetros, o similares, están implementados en lamayoría de los programas comerciales de EBSD.