INTECIN   20395
INSTITUTO DE TECNOLOGIAS Y CIENCIAS DE LA INGENIERIA "HILARIO FERNANDEZ LONG"
Unidad Ejecutora - UE
congresos y reuniones científicas
Título:
Caracterización de dispositivos ópticos mediante interferómetros de polarización uniaxiales
Autor/es:
LUCAS M. RIOBÓ; NATALIA C. ALVAREZ; MARÍA T. GAREA; LILIANA I. PEREZ; FRANCISCO E. VEIRAS
Lugar:
Tandil. Pcia. de Buenos Aires
Reunión:
Congreso; 99a Reunión Nacional de Física de la Asociación Física Argentina; 2014
Institución organizadora:
Asociación Física Argentina
Resumen:
Diversos tipos de dispositivos ópticos pueden ser caracterizados mediante la utilización de interferómetros de polarización de cristales uniaxiales. La ventaja de utilizar este tipo de interferometros radica en su robustez y simplicidad. Por medio de este tipo de interferómetros es posible recuperar la información modulada en la fase de una señal óptica mediante distintas técnicas de procesamiento. En este trabajo presentamos dos aplicaciones: la caracterización de una lámina retardadora y la de un actuador piezoeléctrico. En general, las especificaciones de láminas retardadoras resultan incompletas para muchas aplicaciones por no contemplar la influencia de la longitud de onda en el retardo, por no indicar correctamente cuáles son los ejes rápido y lento, etc. Es sabido que el retardo introducido  entre dos componentes ortogonales del campo eléctrico varía al rotar una lámina retardadora frente a una fuente de luz monocromática. El retardo, que depende del ángulo azimutal, permite caracterizar a la propia lámina. Para determinar el retardo y caracterizar a la lámina, se utiliza un interferómetro de polarización uniaxial. Los dispositivos piezoeléctricos a menudo son usados como transductores ultrasónicos, micro/nano posicionadores y actuadores. La caracterización eléctrica de tales dispositivos puede ser realizada a través de diversas técnicas enfocadas primordialmente en la determinación de la impedancia a diferentes frecuencias. Sin embargo, la determinación de las propiedades mecánicas en general está asociada a la medición de desplazamientos del orden de los nanómetros. Para realizar tales medidas se utilizará, como en el caso de la caracterización de la lámina retardadora, el mismo interferómetro de polarización uniaxial. Se presentan dos esquemas experimentales y las correspondientes técnicas de procesamiento que recuperar la información de fase que permiten la caracterización de estos dispositivos. La diferencia entre dichos esquemas y técnicas de procesamiento están asociadas al tipo de fotodetector utilizado.