IFEG   20353
INSTITUTO DE FISICA ENRIQUE GAVIOLA
Unidad Ejecutora - UE
congresos y reuniones científicas
Título:
Diversas aplicaciones de la microscopía electrónica de barrido
Autor/es:
JORGE TRINCAVELLI
Lugar:
Arequipa
Reunión:
Congreso; I Congreso Nacional de Caracterización de Materiales; 2015
Institución organizadora:
Universidad Nacional de San Agustín
Resumen:
PRE.cjk { font-family: "Droid Sans Fallback",monospace; }PRE.ctl { font-family: "Lohit Hindi",monospace; }P { margin-bottom: 0.08in; }Se presentó un pantallazo de las diferentes aplicaciones realizadas con el microscopio electrónico de barrido con emisión por campo intenso (FEG-SEM) Sigma de Carl Zeiss instalado en la Universidad Nacional de Córdoba, Argentina. Las aplicaciones incluyen diferentes señales tales como electrones secundarios, electrones retrodispersados, electrones transmitidos en muestras delgadas, electrones difractados y rayos x característicos. Estas señales dan lugar a imágenes de contraste topográfico, de contraste químico, de transmisión, y originan técnicas como la difracción de electrones retrodispersados (EBSD), el microanálisis con sonda de electrones (EPMA) y las imágenes de rayos x (XRI). Estas modalidades de uso del microscopio se mostrarán en diversas aplicaciones tales como diseño de nuevos materiales, nanociencia, botánica, odontología, geología,paleontología y farmacología.