Reducción de Varianza en la Simulación Monte Carlo del Reforzamiento por Fluorescencia

PETACCIA, MAURICIO; SEGUI, SILVINA; CASTELLANO, GUSTAVO

Carlos Paz, Córdoba

Congreso; SARX2014; 2014

El microanálisis con sonda de electrones (EPMA) se basa en la comparación de intensidades características inducidas por un haz de electrones monoenergéticos. Cuando los electrones de dicho haz ionizan capas atómicas internas y estas ionizaciones causan la emisión de rayos x característicos, la fluorescencia secundaria puede ocurrir, originandosé por ionizaciones que fueron causadas por los rayos x antes mencionados. Como los detectores son incapaces de distinguir el origen de los rayos x característicos, la simulación Monte Carlo del transporte de radiación se vuelve una herramienta determinante en el estudio del reforzamiento por fluorescencia. En este trabajo se estudió el reforzamiento por fluorescencia en EPMA utilizando las alternativas ofrecidas por el paquete de rutinas PENELOPE2008 [1]. En el caso de la técnica de Splitting, el parámetro a tener en cuenta es NSPLIT y representa el número deseado de réplicas de las partículas de interés. Mientras que la técnica de Forzamiento de Interacciones involucra un factor de forzamiento que incrementa la probabilidad de que ocurra un determinado evento. En particular se estudiaron las dependencias de los errores en las intensidades secundarias con NSPLIT en función del sobrevoltaje y la composición en una aleación simple en dónde la fluorescencia secundaria es un efecto relevante; además se realizaron pruebas utilizando Forzamiento de Interacciones viendosé que, en el caso de reforzamiento por fotones característicos, esta alternativa menos conveniente que utilizar Splitting.