Aplicación de métodos multivariados en el análisis de la estructura fina de espectros de Dispersión Raman Resonante de Rayos X

J. ROBLEDO; H. J. SÁNCHEZ; J. J. LEANI; C. A. PÉREZ

Tandil

Congreso; 99a Reunión Anual de la AFA; 2014

En este trabajo se presenta un método matemático-estadístico para analizar información encriptada en espectros de Dispersión Raman Resonante de Rayos X (RRS) , el cual involucra técnicas del análisis estadístico multivariado, como Análisis de Componentes Principales (ACP) y Análisis de Clúster Jerárquico. Es importante notar que el método exploratorio que se presenta para analizar la información de un conjunto de datos es extensible para cualquier tipo de espectros. Recientemente se ha observado que existe información acerca del estado de oxidación encriptada en un espectro de RRS (tomado de una muestra metálica) mediante un método el cual requiere un procesamiento de los datos de los espectros bastante complejo. El método que se presenta a continuación intenta simplificar la obtención de la información que discierne estados de oxidación en los espectros de RRS.