IFEG   20353
INSTITUTO DE FISICA ENRIQUE GAVIOLA
Unidad Ejecutora - UE
congresos y reuniones científicas
Título:
Microanálisis confocal con rayos X: Un método simplificado para la calibración con haces policromáticos.
Autor/es:
SOSA, C.; PEREZ, R.D.
Lugar:
Carlos Paz
Reunión:
Encuentro; 97a Reunión Nacional de Física. Asociación Física Argentina; 2012
Institución organizadora:
Asociasión Física Argentina
Resumen:
Para realizar un análisis cuantitativo mediante micro-fluorescencia de rayos x en geometría confocal, es fundamental realizar la calibración del espectrómetro. Esto implica la obtención de la relación entre la señal registrada (FRX) y las concentraciones elementales la cual se define como sensitividad. En el microanálisis confocal por rayos x la sensitividad se encuentra localizada en un pequeño volumen representado por una función espacial gaussiana con parámetros dependientes de la energía incidente. El modelo teórico para la sensitividad indica que lo parámetros relevantes son el tamaño de foco a la distancia de medición y la transmisión de las lentes. Por lo tanto a la hora de utilizar las ecuaciones con un haz de excitación policromático se involucran un gran número de parámetros que dificultan los ajustes requeridos en el análisis cuantitativo multielemental. En este trabajo se utilizan simulaciones obtenidas con un programa propio basado en el código FORTRAN para calcular algunos factores que determinan las propiedades de las lentes y sus dependencias en energías con el objetivo de reducir los parámetros de ajuste en el cálculo teórico de la sensitividad.