Estudio de películas delgadas de TiO2 formadas electroquímicamente a partir de depósitos de titanio sobre vidrio

LUCÍA B. AVALLE, FRANCISCO A. FILIPPIN, JORGE C. TRINCAVELLI, RITA BONETTO, OMAR E. LINAREZ PÉREZ, MANUEL LÓPEZ TEIJELO

Carlos Paz

Congreso; 97 Reunión Nacional de la Asociación de Física Argentina; 2012

El estudio y caracterizaci\'on de electrodos de $Ti/TiO_{2}$ con diferentes espesores de \'oxido tiene el prop\'osito de encontrar una correlaci\'on entre las propiedades electr\'onicas y las propiedades (foto)electrocatal\'iticas de dicho material [1-3].Las propiedades fisicoqu\'imicas del \'oxido de titanio formado potenciodin\'amicamente a partir de titanio depositado sobre vidrio fueron estudiadas por Voltamperometr\'ia C\'iclica (VC), Elipsometr\'ia por reflexi\'on (EL), Microan\'alisis con Sonda de Electrones (EPMA) y Microscop\'ia Electr\'onica de Barrido (SEM). La formaci\'on y estabilizaci\'on del \'oxido se realiz\'o en soluciones de $HClO_{4}$ 0,010 M. El \'oxido se creci\'o hasta 4 V vs. Ag/AgCl (sat. KCl) ya que a potenciales mayores la aparici\'on de picaduras (pits) lleva al desprendimiento del sustrato de la pel\'icula de \'oxido. Por esta raz\'on se realizaron estudios de SEM para dichas pel\'iculas en el mismo intervalo de crecimiento del \'oxido. Las muestras duplicadas se montaron en un portamuestras para observar la interfase $Ti-TiO_{2}$ frontalmente, detect\'andose una alta fragilidad del \'oxido. Se utiliz\'o una microsonda de electrones para determinar la intensidad de la l\'inea caracter\'istica K$\alpha$ del ox\'igeno, que crece a medida que hay mayor espesor de $TiO_{2}$. Mediante esta estrategia se correlacion\'o, a trav\'es de una curva de calibraci\'on, la intensidad del pico O-K$\alpha$ con el voltaje de formaci\'on. A partir de modelos de generaci\'on y absorci\'on de rayos X, estos resultados se utilizaron para determinar los espesores de $TiO_{2}$, mostrando buena correlaci\'on con los resultados obtenidos por elipsometría.