Difração e Espalhamento de Raios X por Nanomateriais

DIEGO G. LAMAS; MARIO DE OLIVEIRA NETO; GUINTHER KELLERMANN; ALDO F. CRAIEVICH

NANOCIÊNCIA E NANOTECNOLOGIA: PRINCÍPIOS E APLICAÇÕES - Volume 3 - TÉCNICAS DE NANOCARACTERIZAÇÃO

Elsevier

Lugar: Río de Janeiro; Año: 2015; p. 129 - 218

Este capítulo descreve os métodos experimentais de difração e de espalhamento de raios X e suas aplicações em estudos de materiais nanoestruturados. A primeira parte contém os aspectos básicos da difração de raios X de pó cristalino (XPD) e suas aplicações para determinações de parâmetros estruturais relevantes de nanopós cristalinos, tais como tamanho médio e microdeformações dos cristalitos. Na segunda parte são apresentadas as equações básicas do espalhamento de raios X a baixo ângulo (SAXS), método comumente utilizado em pesquisas estruturais de baixa resolução de nanopartículas inorgânicas e macromoléculas biológicas, e são descritos exemplos de estudos de proteínas em solução. Finalmente, a terceira parte trata sobre a teoria básica e as aplicações de duas variantes da técnica SAXS: SAXS com incidência rasante (GISAXS), para pesquisas de nanoestruturas em filmes finos suportados ou em partes superficiais de materiais, e SAXS anômalo (ASAXS) aplicada em estudos de nanoestruturas de maior complexidade. NOTA: No pude cargar el capítulo por la dimensión del archivo. Se encuentra en: http://www.elsevier.com.br/site/produtos/Detalhe-produto.aspx?tid=96208&seg=3&cat=277&tit=T%C3%89CNICAS%20DE%20NANOCARATERIZA%C3%87%C3%83O