INVESTIGADORES
SCAFFARDI Lucia Beatriz
congresos y reuniones científicas
Título:
Modelado de la función dieléctrica de Ag dependiente del tamaño: determinación de parámetros ópticos y de energía de banda. Caracterización por espectroscopía de extinción óptica
Autor/es:
JESICA M. J. SANTILLÁN; LUCÍA B. SCAFFARDI; FABIÁN A. VIDELA ; DANIEL C. SCHINCA
Lugar:
San Carlos de Bariloche, Argentina
Reunión:
Congreso; 98ª Reunión Nacional de la Asociación Física Argentina; 2013
Institución organizadora:
Centro Atómico Bariloche
Resumen:
El estudio de las
propiedades ópticas de nanopartículas (Nps) de plata es de gran interés en los
últimos años por sus aplicaciones en diversos campos de la ciencia y la
tecnología. Este trabajo analiza por separado la contribución de los electrones
libres y ligados de la función dieléctrica de plata en escala nanométrica. La
contribución de los electrones libres se corrige por tamaño a través de la
modificación de la constante de amortiguamiento para incluir las colisiones
adicionales con el contorno de la partícula en el caso de radios menores a 10
nm.
En cuanto a la contribución
de los electrones ligados, hemos considerado las transiciones interbanda de la banda-d a la banda de conducción, incluyendo
la dependencia de la densidad de estados electrónicos con el tamaño para radios
inferiores a 2 nm. Teniendo en cuenta estas modificaciones específicas, fue posible
ajustar la función dieléctrica compleja bulk, y en consecuencia, determinar los
parámetros ópticos y los valores de energía de banda, tales como el coeficiente
de la contribución de los electrones ligados, energía del gap, energía de Fermi, y la constante de amortiguamiento de los electrones
ligados.
Estos estudios se aplican
al ajuste de los espectros de extinción experimental de Nps esféricas
core-shell Ag-Ag2O muy pequeñas, generadas por ablación con láser de
pulsos ultracortos sobre un blanco sólido en agua. A partir del ajuste, fue
posible determinar la distribución de radios de núcleo y espesores de
recubrimiento de las Nps. Los resultados del análisis de AFM y TEM realizadas
en las muestras obtenidas están en concordancia con el tamaño obtenido por
Espectroscopía de Extinción Óptica, mostrando que esta última es una muy buena
técnica complementaria a los métodos estándar de microscopía.
