IFLP   13074
INSTITUTO DE FISICA LA PLATA
Unidad Ejecutora - UE
congresos y reuniones científicas
Título:
?Caracterización de electrodos en analizadores de impedancia?
Autor/es:
LUIS D. JUNCIEL; S. OSORIO; G. ECHEVERRÍA; M. FRECHERO; M. TAYLOR; R. ALONSO; A. LÓPEZ GARCÍA; M. DE LA RUBIA; J. JÍMENEZ MARTÍNEZ; G. PUNTE
Lugar:
Montevideo
Reunión:
Congreso; XII Reunión de la SUF y 96 Reunión Nacional de la AFA; 2011
Resumen:
El presente trabajo se origina en la preocupaci´on compartida por varios grupos de investigaci´on (del IFLP, del DF (UNLP) y del ETSI Telecomunicaciones, FI, Universidad Polit´ecnica de Madrid) acerca de la obtenci´on de resultados de impedancia en funci´on de la frecuencia, Z(f), confiables y reproducibles. Para lograr esto, debido a que existen en la bibliograf´ıa interpretaciones contradictorias sobre resultados obtenidos en condiciones aparentemente similares, se pretende determinar la influencia que los distintos factores instrumentales (geometr´ıa y material empleado en la construcci´on de los electrodos, interface muestra-electrodo, etc.) tienen en las medidas de Z(f) en el rango de frecuencias entre 20Hz - 1MHz, enmascarando en muchos casos las verdaderas causas de la variaci´on de Z con ´esta y dificultando, por ende, la interpretaci´on de los resultados experimentales. Esta puesta en com´un permitir´a avanzar en el estudio de diversos materiales de potencial aplicaci´on tecnol´ogica que son objeto de investigaci´on en los grupos mencionados. Entre los materiales de inter´es caben destacarse aquellos que presentan una alta constante diel´ectrica,como por ejemplo: CuO, CaCu3Ti4O12, PbxBa1−xHfO3, etc., y que, por lo tanto, tienen potencial aplicaci´on en microelectr´onica. Las medidas fueron realizadas a temperatura ambiente en el rango (20Hz - 1MHz) en un impedanc´ımetro Agilent 4284 instalado en el laboratorio de Espectroscopia de Impedancia del Dpto. de Qu´ımica en la UNS y en un Solartron 1260 instalado en el Laboratorio de Espectroscop´ıa de Impedancia del Dpto. de F´ısica, en la Facultad de Ciencias Exactas de la UNLP variando el tipo de contactos y la relaci´on tama?no de la muestra - tama?no del electrodo empleando electrodos comerciales y otros construidos ad-hoc.
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