Modificación de superficies de oro con complejos de osmio: análisis de la transferencia de carga y caracterización estructural

ALEJANDRA RICCI; ERNESTO J. CALVO

Tandil, Provincia de Buenos Aires

Congreso; XV CONGRESO ARGENTINO DE FISICOQUIMICA Y QUIMICA INORGANICA; 2007

Asoc. Argentina de Investigacion Fisicoquimica

La deposición de monocapas moleculares sobre una variedad de sustratos ha generado una vía de modificación de superficies que les confiere propiedades bien definidas. La incorporación de grupos redox en estas películas permite el monitoreo del proceso de adsorción en tiempo real y de forma no invasiva, usando técnicas electroquímicas, como la voltametría cíclica. Por otro lado, la generación de interfaces formadas con centros redox unidos a superficies metálicas permite el análisis de los procesos de transferencia de carga [1-3]. Comprender estos fenómenos es sumamente importante al momento de desarrollar dispositivos electrónicos moleculares. En este trabajo se plantea la modificación de electrodos de oro con diferentes complejos de Osmio usando distintas estrategias de acoplamiento entre los mismos y otros grupos funcionales ya presentes sobre la superficie, ya sea por tiolado de la misma o por la reducción de sales de diazonio [4-7]. Recientemente hemos informado evidencia en FT-IRRAS sobre la posibilidad de obtener monocapas aril-modificadas sobre oro por reducción de sales de diazonio disueltas en acetonitrilo. Se realiza una caracterización detallada del proceso de transferencia de carga entre la superficie del metal y los grupos redox ubicados a distintas distancias de la misma y conectados por diferentes "cables moleculares" mediante voltametría cíclica rápida y cronoamperometría. Además, se analiza el efecto del electrolito soporte y de la fuerza iónica sobre la cinética de la transferencia electrónica. Finalmente, se busca completar la información de estos sistemas, usando diferentes técnicas de caracterización superficial. Entre ellas se usa Espectroscopía Infrarroja con Transformada de Fourier por Reflexión-Absorción (FT-IRRAS), Espectroscopía Fotoelectrónica de Rayos X (XPS), Espectroscopía Raman Resonante (RR) y Microscopía de Efecto Túnel (STM). [1] Forster R. J. y Faulkner L. R., J. Am. Chem. Soc. 1994, 116, 5444-5452. [2] Forster R. J., Inorg. Chem. 1996, 35, 3394-3403. [3] Forster R. J., Figgemeier E., Loughman P., Lees A., Hjelm J. y Vos J. G., Langmuir 2000, 16, 7871-7875. [4] Ortiz B., Saby C., Champagne G.Y. y Bélanger D., J. Electroanal. Chem. 1998, 455, 75-81. [5] Bernard M-C., Chaussé A., Cabet-Deliry E., Chehimi M.M., Pinson J., Podvorica F. y Vautrin-Ul C., Chem. Mater. 2003, 15, 3450-3462. [6] Laforgue A., Addou T. y Bélanger D., Langmuir 2005, 21, 6855-6865. [7] Ricci A.M., Bonazzola C. y Calvo E.J., Phys. Chem. Chem. Phys., 2006, 8, 4297-4299 J. Am. Chem. Soc. 1994, 116, 5444-5452. [2] Forster R. J., Inorg. Chem. 1996, 35, 3394-3403. [3] Forster R. J., Figgemeier E., Loughman P., Lees A., Hjelm J. y Vos J. G., Langmuir 2000, 16, 7871-7875. [4] Ortiz B., Saby C., Champagne G.Y. y Bélanger D., J. Electroanal. Chem. 1998, 455, 75-81. [5] Bernard M-C., Chaussé A., Cabet-Deliry E., Chehimi M.M., Pinson J., Podvorica F. y Vautrin-Ul C., Chem. Mater. 2003, 15, 3450-3462. [6] Laforgue A., Addou T. y Bélanger D., Langmuir 2005, 21, 6855-6865. [7] Ricci A.M., Bonazzola C. y Calvo E.J., Phys. Chem. Chem. Phys., 2006, 8, 4297-4299 Inorg. Chem. 1996, 35, 3394-3403. [3] Forster R. J., Figgemeier E., Loughman P., Lees A., Hjelm J. y Vos J. G., Langmuir 2000, 16, 7871-7875. [4] Ortiz B., Saby C., Champagne G.Y. y Bélanger D., J. Electroanal. Chem. 1998, 455, 75-81. [5] Bernard M-C., Chaussé A., Cabet-Deliry E., Chehimi M.M., Pinson J., Podvorica F. y Vautrin-Ul C., Chem. Mater. 2003, 15, 3450-3462. [6] Laforgue A., Addou T. y Bélanger D., Langmuir 2005, 21, 6855-6865. [7] Ricci A.M., Bonazzola C. y Calvo E.J., Phys. Chem. Chem. Phys., 2006, 8, 4297-4299 Langmuir 2000, 16, 7871-7875. [4] Ortiz B., Saby C., Champagne G.Y. y Bélanger D., J. Electroanal. Chem. 1998, 455, 75-81. [5] Bernard M-C., Chaussé A., Cabet-Deliry E., Chehimi M.M., Pinson J., Podvorica F. y Vautrin-Ul C., Chem. Mater. 2003, 15, 3450-3462. [6] Laforgue A., Addou T. y Bélanger D., Langmuir 2005, 21, 6855-6865. [7] Ricci A.M., Bonazzola C. y Calvo E.J., Phys. Chem. Chem. Phys., 2006, 8, 4297-4299 J. Electroanal. Chem. 1998, 455, 75-81. [5] Bernard M-C., Chaussé A., Cabet-Deliry E., Chehimi M.M., Pinson J., Podvorica F. y Vautrin-Ul C., Chem. Mater. 2003, 15, 3450-3462. [6] Laforgue A., Addou T. y Bélanger D., Langmuir 2005, 21, 6855-6865. [7] Ricci A.M., Bonazzola C. y Calvo E.J., Phys. Chem. Chem. Phys., 2006, 8, 4297-4299 Chem. Mater. 2003, 15, 3450-3462. [6] Laforgue A., Addou T. y Bélanger D., Langmuir 2005, 21, 6855-6865. [7] Ricci A.M., Bonazzola C. y Calvo E.J., Phys. Chem. Chem. Phys., 2006, 8, 4297-4299 Langmuir 2005, 21, 6855-6865. [7] Ricci A.M., Bonazzola C. y Calvo E.J., Phys. Chem. Chem. Phys., 2006, 8, 4297-4299 Phys. Chem. Chem. Phys., 2006, 8, 4297-4299