Efectos producidos en la medición por espectroscopía Raman en láminas delgadas de óxido de grafeno (poster)

L. A. PÉREZ; G. I. LACCONI; N. BAJALES LUNA

Rosario

Encuentro; XV Encuentro: Superficies y Materiales Nanoestructurados NANO 2015; 2015

EFECTOS PRODUCIDOS EN LA MEDICIÓN POR ESPECTROCOPÍA RAMAN EN LÁMINAS DELGADAS DE ÓXIDO DE GRAFENO L. A. Pérez1, G. I. Lacconi1, N. Bajales2 1INFIQC, CONICET. Dto. Fisicoquímica, Facultad de Ciencias Químicas, UNC. Ciudad Universitaria, Córdoba. 2 IFEG, CONICET. Medina Allende s/n, Ciudad Universitaria, Córdoba. E-mail: blnoelia@gmail.com, Gabriela.Lacconi@gmail.com El grafeno es uno de los alótropos del carbono más destacado en los últimos años por sus notables propiedades, de interés en aplicaciones de Nanotecnología. Por otra parte, los atributos particulares asignados al óxido de grafeno (GO), también han generado una creciente motivación debido a sus potenciales usos como sensores en medicina, celdas de combustible, remediación ambiental, etc. En efecto, las propiedades eléctricas, mecánicas, térmicas y ópticas del GO son fuertemente dependientes de la estructura atómica y química. Esto daría lugar a un amplio espectro de aplicaciones. Entre los métodos rápidos y confiables empleados para la identificación del número de capas de GO y el control de calidad de estos materiales, podemos citar la espectroscopía Raman, espectroscopía de contraste, la microscopía óptica y microscopía de fuerza atómica. Sin embargo, la determinación precisa no invasiva, del número de capas de GO es actualmente un desafío y no existe un consenso claro al respecto. En la presente comunicación se muestran los resultados obtenidos en el estudio sistemático sobre los efectos del proceso de medición mediante microscopía óptica y espectroscopía Raman de capas de GO depositadas sobre distintos sustratos (silicio monocristalino, polímeros y vidrio). Se emplea un microscopio Raman (Jobin Yvon LabRam HR) acoplado con una plataforma de desplazamiento para mediciones combinadas AFMRaman, lo que permite reconocer con alta resolución el nivel y dimensiones de las modificaciones producidas en la superficie de las láminas de GO, durante la irradiación con láser bajo distintas condiciones experimentales. El análisis de los efectos producidos sobre las láminas delgadas (muy pocas capas) de GO en función de la longitud de onda (632,8 y 514,5 nm), potencia de la radiación láser (entre 4 y 0,4 mW), tiempo de exposición (3-300 s), distancia focal y naturaleza del sustrato permiten determinar valores límites aproximados en las condiciones de medición, que evitan producir un daño apreciable del material. El análisis resultante permite establecer las condiciones de irradiación que inducen la reducción parcial del óxido de grafeno.