Estudio de la asimetría de los picos de rayos X característicos registrados por un detector de Si(Li)

CARRERAS A; TRINCAVELLI J; BONETTO RD; LIMANDRI S.

Salta

Congreso; 92a Reunión Asociación Física Argentina; 2007

Universidad de Salta

La asimetría de los picos de rayos x característicos registrados por un detector de Si(Li) se debe fundamentalmente a la colección incompleta de cargas en la zona parcialmente activa del detector. Las impurezas y defectos en la estructura cristalina del Si pueden actuar como “trampas” para huecos y electrones en su viaje hacia los electrodos del detector. Por lo tanto la carga colectada, y por consiguiente la energía detectada, es menor. El efecto global es que los picos pueden presentar una “cola” hacia la zona de bajas energías. Utilizando la técnica de Microanálisis con Sonda de Electrones (EPMA) se determinaron parámetros de asimetría de los picos característicos detectados por un detector de Si(Li). Se analizaron espectros registrados a distintas constantes de tiempo (“peaking times”) del sistema de detección y a diferentes ángulos de incidencia en el detector (relacionados con los correspondientes ángulos de salida de la radiación o “take-off”). La determinación correcta de estos parámetros es de interés para la cuantificación sin estándares en EPMA, especialmente en muestras con fuerte solapamiento de picos.