Estudio de películas delgadas de TiO2 formadas electroquímicamente a partir de depósitos de titanio sobre vidrio.

LUCÍA B. AVALLE,; FRANCISCO A. FILIPPIN; JORGE C. TRINCAVELLI; RITA BONETTO,; OMAR LINAREZ PÉREZ; MANUEL LÓPEZ TEIJELO

Carlos Paz, Córdoba

Congreso; 97 Reunión Nacional de la Asociación Física Argentina; 2012

El estudio y caracterización de electrodos de Ti/TiO2 con diferentes espesores deóxido tiene el propósito de encontrar una correlación entre las propiedades electrónicasy las propiedades (foto)electrocatalíticas de dicho material [1-3]. Las propiedadesfisicoquímicas del óxido de titanio formado potenciodinámicamente a partir de titanio depositadosobre vidrio fueron estudiadas por Voltametría Cíclica (VC), Elipsometría (EL),Microanálisis con Sonda de Electrones (EPMA) y Microscopía Electrónica de Barrido(SEM). La formación y estabilización del óxido se realizó en 0,010 M HClO4. Se observóque el crecimiento del óxido es posible solamente hasta valores de potencial no mayoresde 4 V vs. Ag/AgCl (sat. KCl). Esto se debe a la aparición de picaduras (pits) que lleva aque la película de titanio se desprenda del sustrato. Por esta razón se realizaron estudiosde SEM para dichas películas en el mismo intervalo de crecimiento del óxido. Las muestrasduplicadas se montaron en un portamuestras para observar la interfase Ti /TiO2frontalmente, detectándose una alta fragilidad del óxido. Se utilizó una microsonda deelectrones para determinar la intensidad de la línea característica Ka del oxígeno, quecrece a medida que hay mayor espesor de TiO2. Mediante esta estrategia se correlacionó,a través de una curva de calibración, la intensidad del pico O-Ka con el voltaje deformación. A partir de modelos de generación y absorción de rayos X, estos resultadosse utilizaron para determinar los espesores de TiO2, mostrando buena correlación conlos resultados obtenidos por elipsometría.