Anomalias Vibracionais em Sr2B’UO6 (B’ = Co, Ni)‏ investigadas por difração de raios-X, espalhamento Raman e infravermelho

A. F. L. MOREIRA; E. GRANADO; A. F. GARCÍA-FLORES; N.E. MASSA; R. M. PINACCA; J. C. PEDREGOSA; R. E. CARBONIO; A. MUÑOZ; J. L. MARTÍNEZ; J. A. ALONSO; L. DEL CAMPO; D. DE SOUZA MENESES; P. ECHEGUT

Sao Pedro, SP, Brasil

Congreso; I ENCONTRO BRASILEIRO DE ESPECTROSCOPIA RAMAN (ENBRAER); 2009

Comite ad hoc

  Os resultados de espalhamento Raman indicaram que a anomalia poderia ser tanto de origem estrutural quanto eletrônica e para se investigar a existência de possíveis anomalias estruturais próximas de T2 e T3 medidas de difração de raios-X com luz síncrotron foram realizadas. Entretanto, ni os dados de difração de raios-X, analisados por refinamento de Rietveld, ni os espectros infravermelhos não revelaram nenhuma anomalia. Logo, conclui-se que as anomalias encontradas em Espalhamento Raman são de origem eletrônica, haja vista que os dados de difração de raios-X não revelaram nenhuma anomalia estrutural. Essa família de perovskitas duplas apresenta uma desproporção de carga parcial B’2+ + U6+ ßà B’3+ + U5+. Como essa desproporção pode variar com a temperatura sugere-se que a anomalia na freqüência do fônon considerado possa estar associada a esta desproporção de carga parcial.