CIOP   05384
CENTRO DE INVESTIGACIONES OPTICAS
Unidad Ejecutora - UE
congresos y reuniones científicas
Título:
NANOFILMS METÁLICOS PARA DETECCIÓN DE CONTAMINANTES: RESONANCIA PLASMÓNICA
Autor/es:
JESICA M. J. SANTILLÁN, DAVID MUÑETÓN ARBOLEDA, DANIEL C. SCHINCA Y LUCÍA B. SCAFFARDI
Lugar:
Villa Carlos Paz, Córdoba, Argentina
Reunión:
Congreso; IV NanoCórdoba 2017, Villa Carlos Paz. Córdoba, Argentina, 19 y 20 de mayo de 2017; 2017
Institución organizadora:
IV NanoCórdoba 2017
Resumen:
Actualmente, el desarrollo de sensores ópticos basados en resonancia plasmónica ha impulsado gran interés en la ciencia y la tecnología debido a sus importantes aplicaciones en áreas de la biomedicina, la bioquímica y el medio ambiente [1, 2]. La técnica es de tipo diferencial y está basada en los cambios producidos en la posición angular del mínimo de reflectancia (en reflexión total interna) debido a los plasmones superficiales generados en la interfase dieléctrico-metal cuando existe una variación en los índices de refracción del medio sensado.En este trabajo se realiza el análisis de la variación de las características de la resonancia plasmónica en un sensor de configuración tipo Kretschmann [3] cuando la capa activa se expone a diferentes concentraciones de contaminantes tales como cloruro de litio (LiCl), disulfuro de carbono (CS2), entre otros. El corrimiento del mínimo de reflectancia puede utilizarse para el sensado de dichos contaminantes.La variación del índice de refracción de las diferentes concentraciones de los contaminantes es calculado con la teoría de la función dieléctrica efectiva de Bruggeman para una longitud de onda específica, estudiando el cambio del índice de refracción del medio en función de la relación porcentual del contaminante.REFERENCIAS 1.J. N. Anker, W. Paige Hall, O. Lyandres, N. C. Shah, J. Zhao, and R. P. Van Duyne, Nature Materials 7 (2008) 442-453.2.M. E. Stewart, C. R. Anderton, L. B. Thompson, J. Maria, S. K. Gray, J. A. Rogers, and R. G. Nuzzo, Chem. Rev. 108 (2008) 494-521.3.J. M. J. Santillán, L. B. Scaffardi, D. C. Schinca, and F. A. Videla, Journal of Optics 12 (2010) 2040-8986.