Detección de topografía subsuperficial utilizando speckle dinámico

G. H. SENDRA; A. MAVILIO NUÑEZ; M. FERNÁNDEZ LIMIA; R. ARIZAGA; M. TRIVI; H. RABAL

La Habana, Cuba

Simposio; 13 Convención Científica de Ingeniería y Arquitectura y VII Taller Internacional de Enseñanza de Física e Ingeniería EFING´06; 2006

Cuando se ilumina una superficie con luz coherente proveniente de un láser se produce un fenómeno denominado speckle, producido por la interferencia de tipo aleatoria debido a la rugosidad micrométrica de la misma. Si la microestructura de la muestra varía temporalmente, la distribución de intensidades del patrón de speckle también evoluciona, lo que se denomina speckle dinámico. Este es el caso, por ejemplo, del proceso de secado de una pintura. Es posible entonces extraer información estadística que indica en que fase del proceso de secado se encuentra. Utilizando este efecto, se puede esperar que si un medio activo tiene distintos espesores sea posible determinar la topografía subyacente mediante medidas del speckle dinámico. En este trabajo se ha aplicado una capa de pintura sobre una moneda de manera tal que la superficie pintada no presente más su relieve característico. Una secuencia de imágenes de su superficie iluminada por un laser de He-Ne fue registrada con una cámara CCD. La variación temporal de intensidad de cada píxel fue analizada espectralmente mediante un banco de filtros. Analizando la energía promedio de cada píxel en determinadas bandas de frecuencias fue posible construir una imagen donde se observa el relieve oculto de la moneda. Se prevé que futuros estudios permitan extender esta técnica para poder detectar información tal como escritos, marcas y señales subsuperficiales de la muestra en estudio.