CIOP   05384
CENTRO DE INVESTIGACIONES OPTICAS
Unidad Ejecutora - UE
congresos y reuniones científicas
Título:
ECONSTRUCCI´ON DEL PERFIL DE INDICE DE REFRACCIÓN DE GUIAS DE ONDA OPTICAS FABRICADAS CON PULSOS LÁSER ULTRACORTOS
Autor/es:
D.BIASETTI; MR. TEJERINA; GA. TORCHIA
Reunión:
Conferencia; Reunion Nacional de Fisica Argentina; 2012
Resumen:
La fotónica integrada tiene una amplia penetración en distintos campos de aplicación de la ciencia y la tecnología, como materiales, comunicaciones, biología, etc., habiéndose diseñado ya distintos tipos de sensores e instrumentos que tienen una probada aplicación [1]. Esta rama se refiere al proceso de integración de componentes pasivos y activos en un mismo conjunto (chip) con tecnología planar, en donde los circuitos ópticos empleados son, fundamentalmente, guías de ondas ópticas. Y es por esto que la caracterización de estas últimas, representa uno de los tópicos más importantes en el área.En particular, en los últimos años, la fabricación de guías de onda por escritura directa con pulsos láser ultracortos se ha extendido en forma notable, especialmente por la reducción de las etapas de fabricación y el amplio rango de materiales procesados [1]. Si bien ya se han reportado trabajos con este objetivo [24] en las que se establecen relaciones directas entre los parámetros de micro procesado láser y los perfiles de índice generados, aún no se ha alcanzado un importante dominio desde el punto de vista cuantitativo. En este sentido, este trabajo presenta la reconstrucción numérica del campo de índices realizada a partir de la distribución modal de intensidad del campo cercano, el cual fue adquirido con un sistema de acoplamiento óptico tipo end-fire y una cámara CCD. Para ello se desarrolló un sencillo software de procesamiento de imagen y se utilizó la inversión de la ecuación del campo TE en una guía de ondas, en particular una fabricada por escritura directa de pulsos láser de femtosegundos (PLFS). Se propuso un método que no requiere la suposición previa del índice efectivo [5] sino que lo calcula, y simultáneamente permite determinar la forma de la sección transversal del modo. No obstante, es imprescindible perfeccionar el sistema de adquisición y de cálculo para poder realizar ajustes de funciones analíticas que representen aceptablemente el campo de índices inducido por escritura. Para cuantificar la performance del método propuesto, estudios mediante espectroscopía micro Raman en la zona de guiado pueden ser utilizados para verificar y/o corregir el campo de índice de refracción reconstruido [6].