CIOP 05384
CENTRO DE INVESTIGACIONES OPTICAS
Unidad Ejecutora - UE
congresos y reuniones científicas
Título:
Metrología de vórtices a partir de patrones de speckle modulados reales
Autor/es:
DANIEL SIERRA SOSA; LUCIANO ANGEL-TORO; MYRIAN TEBALDI; ROBERTO TORROBA; NESTOR BOLOGNINI
Lugar:
Medellin
Reunión:
Congreso; 3er Congreso Nacional de ingenieria Fisica; 2012
Institución organizadora:
Sociedad Colombiana de Ingenieria Fisica- Universidad EAFIT
Resumen:
La metrología de vórtices convencional permite
realizar mediciones de desplazamientos
rígidos; en general esta técnica se desarrolla a partir de registros de
patrones con una estructura similar a los speckles. En este trabajo se analiza
el efecto asociado al uso de patrones de speckle modulados reales. Estas
estructuras son generadas por medio de la emulación de la propagación de campos
ópticos cuando un frente de onda plano es difractado por un difusor, lo que
permite controlar las variables asociadas al sistema antes y después de realizar un desplazamiento rígido. Se
estudian los efectos asociados con el incremento de la densidad de vórtices en
cada una de las redes de vórtices al considerar una o más aperturas. Asimismo,
se comparan las densidades al emplear una única apertura con un área
equivalente al total de las aperturas que modulan el speckle en cada caso en
particular. Dicho análisis se presenta tanto para redes de vórtices asociadas a
campos ópticos que poseen información de fase como de pseudo-fase.
