Cuantificación de la relación t:m en mezclas de nanopolvos comerciales de zirconia monoclínica y parcialmente estabilizada por DRX

MATIAS GAUNA; M.S. CONCONI; N. RENDTORFF; G. SUAREZ; E. AGLIETTI

Cordoba

Congreso; IX Reunión Anual de la AACr y I Reunión Latinoamericana de Cristalografía; 2013

UNC y AACr

El objetivo del presente trabajo es comparar los resultados de las cuantificaciones del contenido de zirconia, en mezclas de composición conocida de nanopolvos comerciales (d50≈100 nm) de zirconia monoclínica (0YZ) y zirconia parcialmente estabilizada (3YZ - 3% de óxido de Ytrio), mediante el empleo de métodos semi-empíricos [1,2], basados en relaciones de las intensidades relativas de los difractogramas de los picos principales de la zirconia monoclínica y tetragonal, con el método de Rietveld [3], el cual es un método iterativo que minimiza la diferencia entre un difractograma experimental y uno teórico y toma información de todo el difractograma. Este método, es complementado con el agregado de un estándar interno 100% cristalino, para cuantificar los contenidos de fases no-difractantes. Concluimos que los métodos semi-empíricos de Garvie-Nicholson y Toroya son adecuados para una caracterización rápida de la ponderación de la relación m-t de nanopolvos de zirconia, sin embargo cabe destacar que el resultado obtenido por el segundo es notablemente equivalente al resultado obtenido por Rietveld.La aplicación del método de estándar interno permitió obtener una cuantificación adecuada de los contenidos de fases difractantes y nodifractantes. En el presente trabajo se encontró un importante y no despreciable contenido de fase no difractante de 24 y 47 % en los polvos de 0YZ y 3YZ respectivamente mostrando las limitaciones de la difracción de rayos X estándar para la caracterización de nanopolvos. [1] R. Garvie and P.S Nicholson, J.Am.Ceram. Soc. 55, 303-305. (1972) [2]. H. Toraya, M. et al, J. Am. Ceram. Soc. 67, C119?C121(1984). [3] G De La Torre et al. J. Appl. Cryst. 34, 196-202 (2001).