CETMIC   05378
CENTRO DE TECNOLOGIA DE RECURSOS MINERALES Y CERAMICA
Unidad Ejecutora - UE
congresos y reuniones científicas
Título:
Tratamiento térmico y químico de SiO2@ZrO2am varía su carga eléctrica superficial
Autor/es:
MANUEL FLORES; IVÁN MAISULS; ROSA TORRES SANCHEZ; PABLO M. ARNAL
Reunión:
Congreso; 13er Congreso Internacional en Ciencia y Tecnología de Metalurgia y Materiales 2013; 2013
Resumen:
La síntesis de esferas coloidales que poseen un material en su núcleo y otro a su alrededor (i.e. núcleo@cáscara) se realiza en general por vía del moldeado, que consiste en usar partículas esféricas de un material como molde para construir una cáscara de espesor homogéneo alrededor de otro material. La remoción selectiva de los núcleos convierte las esferas núcleo@cáscara en esferas huecas (i.e. @cáscara)1. El objetivo de este trabajo es determinar la carga eléctrica superficial de esferas SiO2@ZrO2am y SiO2@ZrO2crist y sus productos esferas huecas @ZrO2am y @ZrO2crist generadas con tratamiento alcalino. Los cuatro materiales fueron sintetizados como se describe en un trabajo previo2. En los cuatro tipos de materiales fueron determinadas fases cristalinas con difracción de rayos X (DRX), la forma de las partículas por microscopía electrónica de barrido (MEB), y la carga superficial por la movilidad electroforética (µ). El análisis por DRX permitió evidenciar cristales nanométricos de ZrO2 tetragonal sólo en los materiales tratados térmicamente. MEB mostró partículas esféricas unidas entre sí, y esferas huecas en los materiales tratados con solución de NaOH. Las curvas de µ vs. pH señalaron que los cuatro materiales poseen cargas eléctricas diferentes. Las esferas @ZrO2am y @ZrO2crist presentaron puntos isoeléctricos (PI) en el intervalo de pH 4,8 - 5,8, las esferas SiO2@ZrO2am un PI a pH  3, y las esferas SiO2@ZrO2crist un PI a pH < 3 (fuera del rango de medición). Con este trabajo se concluyó que los cuatro materiales, aunque poseen una cáscara exterior de ZrO2, poseen superficies con cargas eléctricas diferentes. Estas diferentes cargas eléctricas evidencian variaciones en las constantes de disociación de los grupos superficiales, que podría originarse por la presencia de estructuras mixtas Si-O-Zr.