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La microscopía electrónica de barrido (SEM) es una técnica que permite evaluar la morfología superficial de un material a partir de la interacción de un haz de electrones con la muestra generando distintas señales. Particularmente, la señal de rayos x característicos permite efectuar el microanálisis por energía dispersiva (EDX), de modo tal que es posible correlacionar simultáneamente la información topográfica con la composición elemental del área bajo estudio. En éste trabajo se utiliza la combinación SEM-EDX para evaluar la uniformidad de recubrimientos de películas de polietileno con nanopartículas de sepiolita, talco y cloisita.. Se analizó el grado de recubrimiento directamente por observación de la superficie, en tanto que el espesor del mismo se estudió sobre fracturas criogénicas de las películas. Se obtuvo una visión rápida de como se encuentran las partículas sobre la superficie: concentración, ubicación y dispersión, aspectos claves que ponen en evidencia la eficiencia del recubrimiento. Se analizó además la influencia de la forma y la naturaleza del nanomineral sobre este parámetro.