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ABSTRACT En los últimos 30 años el uso de la microscopía electrónica ha brindado una gran contribución en los estudios que relacionan estructura-propiedad en materiales poliméricos. A través de la misma se consigue la caracterización de tamaños, distribución de fases, deformación de estructuras, separación de microfases, etc. Motivos por los que su empleo ha ido en incremento, hasta ubicarse, en la actualidad, entre una de las técnicas más importantes de esta área (1). La Microscopia Electrónica de Barrido (SEM) es una técnica ligada al estudio de las características superficiales. Los diferentes tipos de señal generadas por la interacción del haz de electrones con la muestra tales como electrones secundarios, electrones retrodifundidos, rayos x característicos, etc, proveen información específica de la superficie (topografía, morfología, composición elemental, etc) (2). La señal de electrones secundarios es la más usada en SEM y brinda una imagen topográfica superficial. Otra señal de gran utilidad es la de rayos x característicos que permite conocer la composición elemental del área irradiada por el haz de electrones. Este tipo de señal es la base del microanálisis de rayos x por energía dispersiva (EDX). Mediante esta técnica es posible detectar elementos desde B (Z=5) a U (Z=92) con un límite de detección de 0.1% en peso aproximadamente (3). La combinación SEM-EDX es una herramienta de gran utilidad para el análisis de superficies dado que permite correlacionar simultáneamente la información topográfica con la composición elemental del área bajo estudio. En éste trabajo se presenta el estudio correlativo de SEM-EDX en el análisis de la eficiencia del recubrimiento con partículas minerales de películas de polietileno. Para el cual se aprovecharon la información topográfica y morfológica que brinda el uso del SEM en conjunto con las tres formas distintas de presentación cualitativa de datos que provee el uso del EDX: